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- OMNIOmni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°，173°、90三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的測(cè)量。
- 型號(hào)：OMNI
- 更新日期：2024-10-21 ￥面議
